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XGT-9000は、高感度化と新イメージング技術で、前処理不要・非破壊の簡単元素分析が可能です。新開発の高輝度プローブにより、X線ビーム強度を損なわず微小なスポットでも高速マッピングできます。さらに、イメージング技術の組み合わせで数十μｍサイズまでの異物分析を一台の装置で完結可能なため、製剤の品質管理にも最適です。
また、C : 炭素※（6）からAm : アメリシウム（95）まで広範囲の元素検出ができるため、分析の範囲が広がります。
※軽元素検出オプション搭載時
特長
・前処理不要・非破壊で簡単元素分析
・クリアで高速な元素マッピング
・ 微小な領域も高精細な光学観察で測定ポイントに迅速アクセス
・ 多彩な画像解析ソフトも充実
<アプリケーション事例：葉の元素マッピング分析>
水分やガスを含有する生体試料は、真空環境下では測定ができませんが、独自の部分真空モードを使用することで、水分やガスを含む生体試料も測定が可能です。さらに、ヘリウムガスパージ※を用いることにより、生体試料でも軽元素の分析が可能です。
※ヘリウムパージオプション搭載時
微小部X線分析装置 XGT-9000 仕様
測定原理：エネルギー分散型
検出可能元素：Na（11）～ Am（95）、C（6）～ Am（95）（オプション）
最大試料サイズ［W x D x H］：300 x 250 x 80 mm
ステージ可動範囲［W x D x H］：100 x 200 x 20 mm
光学像：全体像 / 詳細像
詳細像観察 /X 線分析箇所：同軸
光学素子
X線プローブ搭載数：3
検出器
蛍光X 線検出器：液体窒素レス検出器（SDD）
透過X 線検出器：有
マッピング
マッピング領域：100 x 100 mm（最大）
その他
真空引き範囲：試料室全体 / 光学系のみ真空
