2月15日（金）
日本薬剤学会 物性FGセミナー

●主催者より
　X線分析は固体試料の構造解析法として最も強力な方法の一つである。単結晶X線回折及び粉末X線回折は、すでに原薬・製剤分析において多用される分析法となっているが、その汎用性・応用性は近年益々向上している。また、X線分析におけるハード・ソフト面での発展は著しく、創薬に応用できる新しい様々な測定・解析技術が開発されている。その結果、X線分析の測定対象は、従来の単結晶や粉末に留まらず、懸濁液や錠剤まで広がった。今後、X線を用いた分析は更に多種多様の展開を見せると期待できる。本会はX線分析の初心者から中級者を対象に「わかりやすい」をコンセプトとしている。X線を用いた各種分析法を用いて研究されている産学の研究者からご講演頂き、X線研究について基礎から学ぶ。

●開催概要
　日時：2019年2月15日（金）10：30~16：55
　　　　（12 時30分受付開始、懇親会は 17：00～18：00）
　会場：星薬科大学 百年記念館
　　　　〒142-8501 東京都品川区荏原2-4-41
　　　　（http://www.hoshi.ac.jp/site/gaiyou/map.php）
　一般参加費：セミナー（7000円）、情報交換会（3000円）
　学生参加費：セミナー（無料）、情報交換会（3000円）
　申し込み・詳細：http://www.apstj.jp/events/fg/bussei2018

●プログラム

10:30-10:35　はじめに
　　　米持悦生（星薬科大学）
10:35-11:15    粉末X線回折の基礎 ～測定原理、試料調製、測定・解析～
　　　森岡　仁 （ブルカージャパン株式会社　X線事業部）
11:15-12:05    特別講演　CMCの観点から見た溶液中のナノメディシンの特性評価：X線小角散乱を中心にして
　　　櫻井　和朗（北九州市立大学　国際環境工学部）

12:05-13:15    休憩

13:15-13:55    医薬品分子の結晶と非晶質の構造の違いを調べる：二体分布関数を用いた解析（仮）
　　　冨中　悟史（物質・材料研究機構）
13:55-14:35    3次元X線顕微鏡(X線CT)での製剤評価について
　　　照井　裕二（東芝ナノアナリシス株式会社　技術本部）

14:35-14:50    休憩

14:50-15:30    単結晶X線構造解析の利用
　　　高取　和彦（明治薬科大学薬学部　有機合成化学研究室）
15:30-16:10    粉末X線構造解析の現状と医薬品開発への応用 （仮）
　　　溝口　亮（アステラス製薬株式会社 製薬技術本部物性研究所）
16:10-16:50    企業研究におけるX線の利用
　　　高田　則幸（中外製薬株式会社　研究本部）
16:50-16:55    おわりに
　　　米持　悦生（星薬科大学）

17:00-19:00    情報交換会

　※講演スケジュールは変更される場合がございます。