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ALPHA II は、コンパクトなボディに優れた分光性能と品質を凝縮したFT-IRスペクトロメータで、その優れた操作性と共に、FT-IR の新たな基準を作ります。統合されたパネルPCとタッチ操作により、FT-IR の操作がさらに簡単になります。
▶直観的な操作性
ALPHA II は、FT-IRの新たな操作方法を提案します。 本体と統合されたパネルPCと、専用の OPUS-TOUCH を使用することで、測定からデータの評価、レポート作成まで、3段階のタッチ操作だけですべてが完結します。 非常に直観的なOPUS-TOUCHのユーザーインターフェースが、測定から評価にいたるすべての操作を快適にガイドします。
▶さらにパワーアップした性能
ALHPA II は、世界中で高い評価を受けてきたALPHAの性能面をさらにパワーアップした最新モデルです。光源および検出器の安定性をさらに高める技術革新により、感度、波数分解能、波数範囲などの分光性能を高めつつ、さらに環境温度の変化や振動に対する耐性を向上させることに成功。ALPHA において高い評価を得てきた分光性能と堅牢性に、さらなる磨きをかけました。特許技術によるダイオードレーザー制御が実現するクラス最高の波数精度や、独自のRockSolid™干渉計による卓越した安定性など、高品位のスペクトルを常に提供します。
▶効率的なルーチン分析
ALPHA II は、ルーチン分析の効率化に求められるすべての機能を備えています。原料の入荷検査や中間製品、最終製品の品質確認まで、すべての品質管理作業において理想的な分析ツールのひとつです。 ALPHA II では、不良解析や競合品分析、法科学等の分野において求められる未知試料の定性分析を、非常に簡単に実行できます。 さらにALPHA II は、様々なタイプの試料に対して適用可能な定量分析にも最適です。
▶デザインはアプリケーションに従う
ALPHA II のQuickSnap™サンプリングモジュールは、分析におけるサンプリングの柔軟性を高めます。数多く用意されたQuickSnap™サンプリングモジュールから最適な1台を選ぶことで、ほぼすべての種類の試料（例えば、固体、液体または気体）の分析が、完全に統合された装置構成で可能となります。透過法、ATR法、外部反射法、拡散反射法など、一般的なFT-IR分析に求められるほぼすべての測定手法に対応することができます。
