| 開催日 | 2024年10月4日(金) |
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| 開催地 | Web |
半導体業界では更なる微量分析が求められています。ICP-MS アプリケーションエンジニアより “半導体超微量分析” を さらに “深める” ポイントをご紹介します。また半導体のお客様にも注目されつつあるデータインテグリティやネットワーク概要、GC/MS や LC/MS などによる半導体関連分析事例（クリーンルーム、PFAS 分析等）をはじめ、株式会社イアス様から 「半導体分野における極微量金属不純物分析の最近のニーズ」と題した講演を行っていただきます。 セミナー会場では情報交換会も予定しております。講演者やアジレントのアプリケーションエンジニア等と直接お話しいただける貴重な機会ですのでぜひこの機会をご活用ください。
開催方法 :
対面開催 (御茶ノ水ソラシティカンファレンスセンター 2F ソラシティホール 〒101-0062 東京都千代田区神田駿河台４丁目６)
およびブラウザを利用したオンライン配信（ウェビナー、使用ツール：Zoom）
プログラム：
「ICP-MS の DL・BEC を極限まで下げるための基礎知識」
「半導体分野における極微量金属不純物分析の最近のニーズ」株式会社イアス 代表取締役 川端 克彦 様
「データ管理システムを活用したデータインテグリティ対応と業務効率化」
「半導体業界のための GC/MS ソリューション」
「LC/MS による材料中の PFAS 分析最新情報」
「ICP-MS による微量 Si 分析の現状と課題」
「アジレント元素分析装置 ポートフォリオのご紹介」
