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異物（混入物、不純物、偏析・劣化物など）や付着物は、
製品性能の低下や歩留まりの低下、
ひいては生産ラインの一時停止や信頼の低下等、
様々なトラブルを引き起こす一因であり、
一刻も早くその発生源を特定し対策を講じることが求められます。
一方で、異物は形態やサイズ等、その発生状況は千差万別。
早期の発生源特定のためには、すぐに適切な分析手法を選択できるか、
少しでも踏み込んだ考察ができるかが鍵となります。
また、発生要因の定期的な評価により
再発防止にもつながり、トラブルの未然防止に役立ちます。
当社では長年、お客様との対話の上で、
豊富な分析手法の中からの最適な分析メニューをご提案し、
それらの総合解析結果をご提供してまいりました。
その実績と経験から、トラブル解決のための
ご提案・ご助言もさせていただき、ご好評いただいております。
これまで評価が難しかったものや、結果に満足できなかった内容等、
ぜひ当社へお問合せください。
＜当社が選ばれる理由＞
●40年間にわたり、40000件以上の受注実績がございます。
●豊富な知見に基づく分析提案、
結果解析、ソリューションに対応いたします。
●日本分析化学会 有功賞受賞熟練者在籍しております。
極微小異物、浮遊異物、変色等の
特殊サンプリングも対応可能です。
●医薬、生体、再生医療材料等の分野にも対応可能です。
●多彩な分析手法、多彩なスペックの装置を保有しております。
異物には様々なものがあり、発生源の特定には、
高度なサンプリング技術と最適の分析手法の組み合わせにより
総合解析をすることが重要です。
ある程度の異物量があれば、
発生元候補との詳細な構造比較により、
発生源特定に近づくことができます。
■形態観察
外観やサイズを確認し、異物の形態的な特徴を把握します。
＜分析手法例＞
実体顕微鏡、光学顕微鏡、偏光顕微鏡、蛍光顕微鏡、
X線CT、SEM、TEM、AFM等
■元素分析
異物に含まれる組成を把握します。
＜分析手法例＞
SEM-EDX、EPMA、ICP-MS、
XPS、SIMS、nanoSIMS等
■構造解析
異物の構造を特定します。
＜分析手法例＞
顕微FT-IR、o-PTIR、顕微ラマン、TOF-SIMS、XRD、
Py-GC/MS、GC/MS、LC/MS、NMR、 アミノ酸分析計等
異物、付着物にお困りの際は、
当社ホームページよりお問合せください。
また、異物分析の実例や
お問合せ～分析結果ご報告までの流れも
ホームページに記載しております。
ぜひご覧ください。
